Analizorul elemental de inalta performanta cu tinte secundare (geometrie carteziana, polarizare) EDXRF masoara elementele de la Na pana la U in solide, lichide, pulberi si pelicule subtiri.

Caracteristici:

  • Analizeaza elementele de la (₁₁Na) pana la uraniu (₉₂U)

  • Analiza elementara nedistructiva

  • Pot fi analizate probe solide, suspensii, lichide, pulberi și acoperiri

  • Excitatia polarizata asigura limite de detectie mai mici

  • Detector din siliciu de rezolutie inalta tip SDD

  • Probele pot fi analizate in aer, in vid sau in heliu

  • Software special RPF-SQX permite analiza semicantitativa fara standarde

  • Calibrarile semi-empirice necesita foarte putine standarde

  • Algoritmul avansat de rezolvare a picurilor suprapuse reduce erorile

  • Interfața de analiza EZ pentru operarea de rutina

  • Sistem automat de introducere a probelor (autosampler) cu 15 pozitii

 

Specificatii

Tip echipament

Nex CG

Tehnica

Fluorescenta cu radiatii X (XRF)

Beneficii

Analiza elementala a solidelor, lichidelor, pudrelor, aliajelor si a filmelor subtiri

Tehnologie

Fluorescenta de radiatii X cu polarizare si detector SDD

Caracteristici

Tub de radiatii X cu 50 W, 50 kV, detector SDD, autosampler, purjare cu Heliu

Optional

Vacuum, tavite probe, UPS, imprimanta

Calculator

Calculator extern, sistem de operare Windows si software de operare QuantEZ software

Dimensiuni

LxlxH (mm): 600x600x400

Greutate

80 Kg

Alimntare

220 V, 50 Hz, 7 A