Sistem EDXRF nou cu colimator variabil si analiza small spot cu software QuantEZ

NEX DE VSCaracteristici:

  • Analizeaza nedistructiv elementele de la ₁₁Na la ₉₂U

  • Dimensiuni spot selectabile din software: 1, 3 sau 10 mm

  • Imagistica de inalta rezolutie pentru pozitionarea precisa a probei

  • Software performant QuantEZ bazat pe platforma Windows®

  • Permite analiza probelor solide, lichide, aliaje, pulberi si pelicule subtiri

  • Tub cu radiatii X de 60 kV, pentru analiza unui numar mare de elemente

  • Detector FAST SDD®, pentru statistici superioare de numarare

  • Filtre pentru tubul de radiatii X automate, pentru sensibilitate sporita

  • Program optional RPF-SQX, pentru analiza fara standard

 

Specificatii

Tip echipament

NEX DE VS

Tehnica

Fluorescenta de radiatii X (XRF)

Beneficii

Analiza elementala, cu spot variabil a solidelor, lichidelor, pudrelor, aliajelor si a filmelor subtiri

Tehnologie

Fluorescenta de radiatii X cu dispersia energiei (EDXRF), folosind detector SDD cu spot variabil selectabil din software

Caracteristici

Tub de radiatii X cu putere de 12 W, 60 kV, detector SDD, analiza elementelor de la Na la U, spot variabil (1, 3 si 10 mm)

Optional

Purjare cu heliu, vacuum, autosampler, spinner, FP

Calculator

Calculator extern, sistem de operare Windows si software de operare QuantEZ

Dimensiuni

L x l x H (mm): 356x351x260

Greutate

27 Kg

Alimentare

220 V, 50 Hz, 1,5 A