Caracteristici:
-
Analizeaza nedistructiv elementele de la ₁₁Na la ₉₂U
-
Permite analiza probelor solide, lichide, aliaje, pulberi și filme subtiri
-
Tub cu radiatii X de 50 kV pentru analiza unui numar mare de elemente
-
Detector de tip semiconductor pentru o calitate superioara a datelor
-
Interfata moderna de tip smartphone
-
Filtre pentru tubul de radiatii X automate pentru sensibilitate sporita
-
Imprimanta termica incorporata
Specificatii
Tip echipament |
NEX QC |
Tehnica |
Fluorescenta cu radiatii X (XRF) |
Beneficii |
Analiza elementala a solidelor, lichidelor, pudrelor, aliajelor si a filmelor subtiri |
Tehnologie |
Fluorescenta de radiatii X cu dispersia energiei (EDXRF) folosind detector de tip solid state |
Caracteristici |
Tub de radiatii X cu putere de 4 W, 50 kV, analiza elementelor de la Na la U si imprimanta incorporata |
Optional |
Purjare cu heliu, autosampler, spinner |
Calculator |
Calculator intern, software NEX QC, conexiuni USB si Enthernet |
Dimensiuni |
LxHxA (mm): 331x376x432 |
Greutate |
16 Kg |
Alimentare |
220 V, 50 Hz, 1,4 A |